細(xì)說(shuō)冷熱沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)負(fù)載條件
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì).冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)適用對(duì)象有電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及國(guó)防工業(yè)、 航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
一般來(lái)說(shuō)，電負(fù)載和機(jī)械負(fù)載是影響受試設(shè)備應(yīng)力的主要組成部分，因此在試驗(yàn)方案中必須慎重規(guī)定。電負(fù)載要考慮阻抗形式，容許誤差和瞬變過程;機(jī)械負(fù)載要明確是靜態(tài)的還是動(dòng)態(tài)的。在規(guī)定受試設(shè)備的實(shí)際功率輸出時(shí)，必須同時(shí)規(guī)定負(fù)載條件。冷熱沖擊試驗(yàn)箱在試驗(yàn)過程中必須嚴(yán)格遵守對(duì)負(fù)載條件的有關(guān)規(guī)定。
各種電子設(shè)備的負(fù)載條件是不一樣的：例如，元線電引爆裝置的負(fù)載與通信電臺(tái)負(fù)載不一樣;醫(yī)療用心電圖機(jī)電子部分的負(fù)載條件與一般儀器儀表的負(fù)載條件不一樣。就拿通信設(shè)備來(lái)說(shuō)，有的負(fù)載條件是500，有的則是600n，等等。在制定設(shè)備試驗(yàn)方案時(shí)，都要視設(shè)備的具體要求在試驗(yàn)方案中作出具體規(guī)定。